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        1. 技術文章

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          瀝青(qing)大(da)密(mi)度儀(yi)的(de)結果(guo)和(he)哪些(xie)方(fang)面相關

          更新(xin)時間:2025-05-08點擊次(ci)數(shu):1717
            瀝青(qing)大(da)密(mi)度儀(yi)的(de)檢測(ce)結果(guo)受(shou)多種因(yin)素影響(xiang),主要包括(kuo)儀器(qi)性(xing)能(neng)、樣品制(zhi)備(bei)、操(cao)作流程、環(huan)境條件(jian)及數(shu)據(ju)處理(li)等環(huan)節(jie)。以下(xia)從五個(ge)方(fang)面詳細分析(xi)其關聯(lian)性(xing):
            壹、儀器性能(neng)與(yu)校(xiao)準(zhun)
            1. 儀(yi)器(qi)校(xiao)準(zhun)精(jing)度
            瀝青(qing)密(mi)度儀(yi)的(de)核心(xin)部件(jian)(如溫(wen)度控(kong)制器(qi)、傳(chuan)感器、真空(kong)系統)需(xu)定期校(xiao)準(zhun)。若(ruo)傳(chuan)感器靈敏(min)度下(xia)降(jiang)或溫度控(kong)制偏差超過(guo)允(yun)許範(fan)圍(wei)(如(ru)±0.5℃),會導(dao)致(zhi)密(mi)度值(zhi)系統性(xing)偏移。例如,未校(xiao)準(zhun)的(de)溫度傳(chuan)感器可(ke)能(neng)錯(cuo)誤判斷(duan)加(jia)熱(re)狀(zhuang)態(tai),影(ying)響(xiang)體積膨脹計(ji)算(suan)。
            2. 設(she)備(bei)維(wei)護狀(zhuang)態(tai)
            真(zhen)空(kong)比(bi)重(zhong)瓶(ping)的(de)密(mi)封(feng)性、加(jia)熱(re)管(guan)路(lu)的(de)清潔(jie)度直(zhi)接(jie)影(ying)響(xiang)測(ce)試結果(guo)。若(ruo)真空(kong)瓶漏(lou)氣,會導(dao)致(zhi)空(kong)氣殘留,使(shi)測得體(ti)積偏大(da)、密(mi)度偏小;加(jia)熱(re)管(guan)路(lu)油(you)漬堆積(ji)可(ke)能(neng)降低熱(re)傳(chuan)導(dao)效(xiao)率,導(dao)致(zhi)樣品加(jia)熱(re)不(bu)均勻。此(ci)外(wai),密(mi)度計(ji)的(de)透明觀(guan)察窗若存(cun)在(zai)劃痕(hen)或(huo)汙漬,可(ke)能(neng)幹擾(rao)氣泡釋(shi)放(fang)的(de)觀察。
            二(er)、樣(yang)品制(zhi)備(bei)與(yu)特(te)性
            1. 樣(yang)品代(dai)表性(xing)與(yu)均質性(xing)
            瀝青(qing)混(hun)合(he)料的(de)取樣(yang)需滿(man)足規(gui)範要(yao)求,若樣(yang)品中(zhong)粗集料或瀝青(qing)分布不均,會導(dao)致(zhi)局(ju)部密(mi)度差異。例如,細集料未充分分散(如結(jie)團)會增(zeng)大(da)空(kong)隙(xi)率,導(dao)致(zhi)測得理(li)論(lun)密(mi)度偏低。實(shi)踐中(zhong)需通過攪(jiao)拌或篩(shai)分(如控制(zhi)粒(li)徑小(xiao)於6.4mm)提(ti)升(sheng)樣品均質性(xing)。
            2. 老(lao)化與(yu)溫(wen)度敏(min)感性
            瀝青(qing)混(hun)合(he)料在(zai)攪(jiao)拌後若(ruo)未(wei)及時(shi)測(ce)試,其老(lao)化(hua)程(cheng)度會顯著(zhu)影響(xiang)結(jie)果(guo)。例如,保(bao)溫時間(jian)過(guo)長(chang)可(ke)能(neng)導(dao)致(zhi)瀝青(qing)變(bian)硬(ying),密(mi)度升(sheng)高。此(ci)外(wai),樣(yang)品加(jia)熱(re)溫(wen)度需(xu)嚴格(ge)控制在(zai)60-85℃範(fan)圍(wei)內,溫度過(guo)高可(ke)能(neng)引發瀝青(qing)揮發(fa),溫度過(guo)低則無法(fa)充分流動填充空(kong)隙(xi)。
            三(san)、操(cao)作(zuo)流程規(gui)範性(xing)
            1. 真空(kong)度與(yu)脫氣時(shi)間(jian)
            真空(kong)法(fa)測試中,真(zhen)空(kong)度不(bu)足或(huo)脫氣時(shi)間(jian)過短(duan)會導(dao)致(zhi)空(kong)氣殘留,使(shi)得測(ce)得體(ti)積偏大(da)、密(mi)度偏小。研(yan)究表明,真(zhen)空(kong)時間(jian)需根(gen)據(ju)混(hun)合(he)料類(lei)型調整(zheng),壹般不少(shao)於15分鐘。若(ruo)操(cao)作(zuo)時未待(dai)氣泡釋(shi)放(fang)即讀取數(shu)據(ju),可(ke)能(neng)引入較大(da)誤差。
            2. 防水處理(li)與(yu)稱(cheng)量(liang)誤差
            在(zai)水(shui)浴法(fa)或氣排法(fa)中,密(mi)度計(ji)量(liang)杯(bei)外(wai)壁需(xu)塗抹防水塗料,否則水分滲(shen)入會改變(bian)樣(yang)品質(zhi)量(liang)。同(tong)時(shi),稱(cheng)量(liang)器(qi)具(ju)的(de)精(jing)度需(xu)達到1g以上,若(ruo)樣(yang)品重(zhong)量(liang)記(ji)錄(lu)偏差超過(guo)允(yun)許範(fan)圍(wei)(如(ru)±0.1g),會直接(jie)導(dao)致(zhi)密(mi)度計(ji)算(suan)錯(cuo)誤。
            四、環境(jing)條(tiao)件(jian)控制(zhi)
            1. 溫度穩(wen)定性(xing)
            測(ce)試環境(jing)溫度波(bo)動會影響(xiang)瀝青(qing)的(de)熱脹(zhang)冷(leng)縮。例如,室溫(wen)驟變(bian)可(ke)能(neng)導(dao)致(zhi)樣品體(ti)積(ji)收(shou)縮或膨(peng)脹,進而影(ying)響(xiang)密(mi)度計(ji)算(suan)[^3^]。理(li)想條(tiao)件(jian)下(xia),實(shi)驗室(shi)溫度應(ying)控制(zhi)在(zai)25℃±2℃。
            2. 振動與(yu)氣流幹擾(rao)
            設(she)備(bei)需放置(zhi)在(zai)平(ping)穩臺面(mian)上,避(bi)免外界(jie)振動影響真空(kong)系統或(huo)傳(chuan)感器讀數(shu)。此(ci)外(wai),強(qiang)氣流(如風(feng)扇(shan)直吹(chui))可(ke)能(neng)加(jia)速(su)樣品冷(leng)卻(que)或水分蒸(zheng)發,導(dao)致(zhi)結果(guo)偏差。
            五、數(shu)據(ju)處理(li)與(yu)記(ji)錄(lu)
            1. 計算(suan)方(fang)法(fa)選擇(ze)
            理(li)論(lun)最(zui)大(da)密(mi)度計(ji)算(suan)需結(jie)合(he)試樣重(zhong)量(liang)、體(ti)積(ji)及空(kong)隙(xi)率等(deng)參(can)數(shu)。若采(cai)用(yong)公式錯(cuo)誤(如忽(hu)略溫(wen)度修(xiu)正系數(shu)),或輸(shu)入數(shu)據(ju)時未(wei)扣除容(rong)器質(zhi)量(liang),均會導(dao)致(zhi)結果(guo)偏差。
            2. 異常(chang)值處理(li)與(yu)記(ji)錄(lu)
            測試中需(xu)記(ji)錄(lu)關鍵(jian)參(can)數(shu)(如樣(yang)品重(zhong)量(liang)、加(jia)熱(re)溫(wen)度、真(zhen)空(kong)時間(jian)),並(bing)判斷(duan)數(shu)據(ju)合(he)理(li)性。例如,若某(mou)次(ci)測(ce)試密(mi)度值(zhi)顯著(zhu)偏離歷(li)史(shi)數(shu)據(ju),需檢(jian)查(zha)操作(zuo)是(shi)否(fou)規(gui)範(如(ru)樣品是(shi)否(fou)未(wei)全(quan)脫氣)。
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