2.83L塵埃粒子(zi)計(ji)數器是潔凈(jing)環(huan)境(jing)監測(ce)的關(guan)鍵(jian)工具(ju)，通過(guo)精(jing)準(zhun)的顆(ke)粒(li)計數(shu)幫(bang)助(zhu)用戶(hu)維持(chi)高標(biao)準(zhun)空(kong)氣(qi)質(zhi)量(liang)，適(shi)用於(yu)對(dui)潔凈(jing)度要求(qiu)嚴(yan)苛(ke)的行業(ye)。

　　2.83L塵埃粒子(zi)計(ji)數器是檢(jian)測潔凈(jing)室(shi)、凈化(hua)室(shi)、無塵車間、空氣(qi)塵埃顆粒(li)濃(nong)度，顆(ke)粒(li)大(da)小多(duo)少(shao)以及(ji)檢(jian)測(ce)潔凈(jing)等級的計(ji)量(liang)儀(yi)器，采用進(jin)口(kou)半導體激光(guang)管(guan)及(ji)進(jin)口(kou)半導體光(guang)敏接收(shou)管(guan)，壹(yi)次(ci)采樣可(ke)同(tong)時(shi)測(ce)得六個粒(li)徑(jing)通道的塵埃粒子(zi)數(shu)，並能(neng)同(tong)時(shi)觀(guan)察(cha)到六個粒(li)徑(jing)通道粒子的數(shu)目(mu)及(ji)其(qi)變化(hua)情(qing)況。
 

　　2.83L塵埃粒子(zi)計(ji)數器是用於(yu)測量(liang)潔凈(jing)環(huan)境(jing)中單(dan)位體(ti)積內(nei)塵埃粒子(zi)數(shu)和粒(li)徑(jing)分布(bu)的儀(yi)器。其(qi)基本(ben)原理(li)是(shi)光(guang)學(xue)傳(chuan)感(gan)器的探測激(ji)光(guang)經塵埃粒子(zi)散(san)射後(hou)被光(guang)敏元件接(jie)收(shou)並產(chan)生脈沖(chong)信號，該(gai)脈(mai)沖信(xin)號被(bei)輸(shu)出(chu)並放(fang)大(da)，然(ran)後(hou)進(jin)行數(shu)字信(xin)號處理(li)，通過(guo)與(yu)標準(zhun)粒(li)子信號進(jin)行比(bi)較，將(jiang)對(dui)比(bi)結果(guo)用不(bu)同(tong)的參(can)數(shu)表(biao)示(shi)出(chu)來(lai)。儀(yi)器的測(ce)量(liang)參(can)數(shu)設(she)定(ding)、測量(liang)結果(guo)顯示(shi)、按(an)鍵、定(ding)時、打(da)印(yin)、時(shi)間、日(ri)期(qi)、數據(ju)存(cun)儲等均由內(nei)置微(wei)機(MCU)控(kong)制(zhi)和(he)實(shi)現，儀(yi)器可(ke)同(tong)時(shi)顯(xian)示(shi)環(huan)境(jing)的溫(wen)濕(shi)度並監(jian)測報(bao)告激(ji)光(guang)粒(li)子(zi)傳(chuan)感(gan)器的工作(zuo)狀態。
 

　　該(gai)儀(yi)器通常(chang)由以下(xia)幾(ji)部(bu)分組成：采樣頭、流量(liang)計(ji)、過(guo)濾(lv)器、激光(guang)發(fa)生器、探測器等。空氣(qi)樣本從采樣頭進(jin)入儀(yi)器，在流量(liang)計(ji)的作(zuo)用下(xia)經過過(guo)濾(lv)器，過濾(lv)器可(ke)以去(qu)除(chu)較大(da)的顆(ke)粒(li)物質(zhi)，讓更(geng)小的顆(ke)粒(li)物質(zhi)進(jin)入計數(shu)器。接著(zhe)，激光(guang)發(fa)生器產生激光(guang)束(shu)照(zhao)射(she)空氣(qi)樣本，經過散(san)射(she)後(hou)，探測器偵(zhen)測到反(fan)射回來(lai)的光(guang)線，計算並記(ji)錄每個粒(li)子(zi)的數(shu)量(liang)和(he)大(da)小。
 

　　典(dian)型應(ying)用場(chang)景​​：
 

　　​​潔凈(jing)室(shi)監測​​：驗證ISO 14644-1潔凈(jing)度等級。
 

　　​​制(zhi)藥(yao)行業(ye)​​：確保(bao)GMP車間、無菌(jun)灌裝(zhuang)線的合(he)規(gui)性(xing)。
 

　　​​醫(yi)療(liao)領(ling)域​​：手(shou)術室(shi)、生物安(an)全實驗室(shi)的空(kong)氣(qi)質(zhi)量(liang)評估。
 

　　​​電(dian)子制(zhi)造(zao)​​：半(ban)導體、芯片生產中(zhong)的微(wei)粒控(kong)制(zhi)。
 

　　​​科(ke)研機構(gou)​​：氣(qi)溶膠(jiao)研(yan)究、環(huan)境(jing)監測(ce)等。
 

　　值得註意的是(shi)，塵埃粒子(zi)計(ji)數器的使(shi)用需(xu)要經過壹(yi)定(ding)的專(zhuan)業(ye)知(zhi)識(shi)和(he)技(ji)能(neng)。操作(zuo)人(ren)員(yuan)需(xu)要確(que)保(bao)儀(yi)器的準(zhun)確(que)校(xiao)準(zhun)和(he)采樣方法(fa)，以(yi)避(bi)免任(ren)何(he)誤差(cha)或幹擾(rao)導致(zhi)數據(ju)不準(zhun)確(que)。此外，對(dui)於(yu)不(bu)同(tong)類(lei)型的顆(ke)粒(li)物質(zhi)，計(ji)數(shu)器的靈敏度和(he)響(xiang)應(ying)也可(ke)能(neng)不同(tong)，需(xu)要根(gen)據(ju)具(ju)體(ti)情(qing)況進(jin)行調(tiao)整和處理(li)。